苯基自组装提升OPV 寿命增35%,PCE达19.7%

发表时间:2025/3/24 17:04:15

研究成就与看点

本研究由香港城市大学Prof. Alex K Y JEN和叶轩立教授团队发表于《先进功能材料》(Advanced Functional Materials)期刊,成功开发出一种新型的自组装单分子层(SAM,透过以刚性的苯基(phenyl)紫外线(UV)稳定性、电荷提取效率与器件的整体效能。此一创新设计不仅促进了SAM更紧密且有序的排列,同时也增强了电子在富电子咔唑(carbazole)单元中的离域性,基于此SAMOPV器件实现了19.70%的功率转换效率(PCE1100小时的杰出运行稳定性(T80,同时展现出更强的抗紫外线辐射能力

圖片2.png

研究团队

该研究由香港城市大学材料科学及工程学系的Nan ZhangWenlin Jiang等人共同完成,通讯作者为任Alex K.-Y. Jen 及叶轩立(Hin-Lap Yip)


研究背景

有机太阳能电池(OPV)具备轻量、低成本、可挠曲以及溶液制程易于制造等优势,在新兴的洁净能源技术中备受瞩目。典型的OPV器件采用三明治结构,活性层被夹在两个界面层之间,分别为邻近阳极的电洞提取层(HEL)电子提取层(EEL。这些界面层的整体性能对于实现高功率转换效率(PCE)稳定性十分重要。

在众多HEL材料中,以咔唑(carbazole)为基础的自组装单分子层(SAM)因其高效的电荷提取能力而被广泛应用。然而,传统的咔唑SAM存在一些限制:

烷基连接基的限制:烷基连接基的长度会显著影响电荷提取效率,其柔软的特性也可能导致SAM在氧化铟锡(ITO)基板上排列不佳。

咔唑的光氧化敏感性:咔唑本身富含电子,容易发生光氧化反应,进而影响器件的稳定性。

圖片3.png


解决方案

为了解决上述问题,本研究团队提出了一种新型的SAM分子设计策略

以刚性苯基取代柔软烷基:苯基连接基具有更高的刚性和平面性,能够促进SAM的有序排列,提升电荷传输效率。

利用苯基促进电荷离域:苯基连接基可以参与咔唑单元的电子离域,降低其电子密度,进而提高抗光氧化能力。


实验过程与步骤

材料制备:

○SAM材料合成:合成了大桥链接(JJ37)和烷基链接(JJ36)的自组装单分子层(SAM)模型。

SAM溶液代表:将SAM粉末溶解在异丙醇(IPA)和甲苯的混合溶液中。

2.元件准备

主轴准备:将 ITO (氧化电感) 主轴旋涂 PEDOT:PSS

SAM层沉积:将SAM溶液旋涂到ITO基板上,然后进行退火。大面积元件采用精密缝式涂布平台印刷SAM层。

活性层沉积:将活性层材料(例如 PM6:BTP-eC9:L8-BOPM6:Y6D18:BTP-eC9PTB7-Th:PC71BM)旋涂到SAM层上,然后进行退火。

PNDIT-F3N 层沉积:旋涂 PNDIT-F3N 的甲醇溶液。

电极蒸镀:在PNDIT-F3N上蒸镀Ag电极。

3.元件结构:最终的元件结构为 ITO/SAM PEDOT:PSS/活性层/PNDIT-F3N/Ag

4.元件稳定性测试 N2 气氛中和 UV 灯下,监测元件在最大功率点 (MPP) 的作用。


研究成果表征

1.电流密度-电压(J-V)曲线

研究团队使用Enlitech SS-F5太阳光模拟器在AM 1.5 G100 mW cm-2的光照下,使用 Keithley 2400 源表,测量了基于不同HELOPV器件的J-V曲线。

圖片4.png

圖片5.png

推荐使用光焱科技Enlitech SS-X AM1.5G 标准光谱太阳光模拟器,AM1.5G滤光片采用先进的电浆沉积技术制造,具有高光谱准确性和优异的耐用性,使用寿命延长三倍

采用JJ36JJ37的器件分别实现了19.22% 19.70%功率转换效率(PCE。这些数值在已报导的基于SAM HELOPV器件中。

圖片6.png

Figure 3b 显示了基于不同HELPEDOT:PSSJJ36JJ37)的组件的J-V曲线

圖片7.png

Figure 3d 呈现了PCE的分布图,突显了JJ37组件的优异性能

圖片8.png

Figure S29 显示了使用紫外线老化后的ITO/SAM薄膜和SAM溶液制备的组件的J-V曲线,用于评估SAM的稳定性

2.外部量子效率(EQE

研究团队使用Enlitech QE-R系统记录了器件的EQE曲线。EQE积分电流密度(JcalJ-V曲线获得的Jsc高度吻合,验证了器件的效率。在300850 nm的波长范围内,SAM基器件的EQE有所提升,证实了超薄SAM具有最小化的寄生吸收和优异的电荷提取能力

圖片9.png

圖片10.png

推荐使用Enlitech QE-R量子效率光学仪,被500多个优秀太阳能电池研究实验室采用,近10年发表SCI论文1000余篇,包括NatureScienceJouleAdvanced Materials等多家旗舰期刊。

圖片11.png

Figure 3c 显示了基于不同HEL的组件的EQE光谱

3. 稳定性测试

在匹配AM1.5G光谱(300-1100 nm)的LED光源下,以反向扫描方向连续捕获J?V曲线。进行 MPP 追踪,以及在加载模式下进行光热稳定性测试。

PEDOT:PSS基组件在最初200小时内遭受显著的刻录损失,然后逐渐在约350小时达到T80(初始PCE80%)。

JJ36基组件在大约811小时后达到T80,而JJ37基组件表现出出色的耐用性,在1165小时达到T80

圖片12.png

Figure 3e显示了组件的MPP追踪。

圖片13.png

Figure S25显示了PEDOT:PSS基组件在MPP追踪下的组件性能衰减。

4.光谱分析

EQEFTPS将有机太阳能电池(OPV)组件置于 Enlitech FTPS (PECT-600) 系统中,分析 OPV 组件的亚带隙吸收(sub-bandgap region),可以得到 Urbach 能量(EU),它表示材料的能量紊乱程度。

圖片14.png

圖片15.png

圖片16.png


Figure 4c,d 显示了新鲜和老化组件的 EQEFTPS 谱,老化后的 JJ36 基组件的 Urbach 能量显著增加,表明材料的能量紊乱程度增加,这可能是由于 SAM 薄膜的降解导致活性层内形成陷阱态。老化后的 JJ37 基组件的 Urbach 能量几乎不变,表明其具有更好的稳定性。

5. 能量损失分析

使用与Keithley 2400外部电流/电压源表连接的Enlitech  REPS Pro系统测量EL光谱和量子效率。外加偏压激发电致发光(EL),并测量EL光谱,EL测试用于评估非辐射复合。

圖片17.png

圖片18.png

推荐使用Enlitech REPS 钙钛矿与有机光伏Voc损耗分析系统,可以侦测低至10-6% nit的弱光亮度

圖片19.png

Figure 4a 显示了新鲜和老化组件的EQEEL

6. 瞬态光电流(TPC)衰减测量:使用脉冲光照射OPV器件,并记录光电流随时间的变化。JJ37基器件表现出最快的电荷提取速度,衰减时间为0.18 μs(Figure S21)

圖片20.png

7. 空间电荷限制电流(SCLC)法:构建仅允许电洞传输的器件结构,在黑暗条件下测量器件的电流-电压(J-V)特性。Figure S22

圖片21.png

8. 能级分析

l   循环伏安法(CVCV曲线的稳定性反映了分子的电化学稳定性。(Figure 2c,f Figure S13)


圖片22.png

l   静电表面电位(ESP)映射:使用计算化学方法模拟SAM分子的电子密度分布。JJ36在咔唑部分显示出更高的电子密度,而JJ37的电子密度略有降低。

l   密度泛函理论(DFT)计算:使用DFT方法计算SAM分子的电子结构和能级。JJ36HOMOLUMO均位于富电子的咔唑部分,且LUMO能级较高(-1.13 eV);JJ37HOMOLUMO分布更分散,且LUMO能级更稳定(降低约0.4 eV)。

l   紫外光电子能谱(UPS:可以确定材料的功函数(WF)和价带边缘。(Figure S18)

圖片23.png

9. SAM分子稳定性分析

紫外-可见光谱(UV-Vis)和光致发光(PL)光谱UV-Vis光谱反映分子的吸收特性,J36溶液在紫外线照射48小时后,从透明变为淡黄色,且吸收光谱发生显著变化,PL强度显著衰减,表明其发生了明显的降解,而JJ37溶液几乎没有变化。(Figure 2a,d)

圖片24.png

核磁共振(1H NMR)光谱:提供分子结构的信息,并检测化学键的断裂或形成。(Figure 2b,e)

圖片25.png

开尔文探针力显微镜(KPFM:表面电位的变化反映了SAM分子的降解程度。(Figure 2i,j)

圖片26.png

10. 其他表征

X射线光电子能谱(XPS:提供元素组成和化学态的信息。(Figure S15)

圖片27.png

原子力显微镜(AFM:测量表面的粗糙度。(Figure S16)

圖片28.png

水接触角测量:反映表面的润湿性。(Figure S17)

圖片29.png

空气稳定性测试:反映分子在空气中的稳定性。(Figure S19)

圖片30.png

研究总结

这项研究主要探讨了分子设计策略对OPV器件中咔唑衍生的SAM性能的影响。通过用刚性的苯基连接基取代传统的柔性烷基连接基,研究团队成功地微调了SAM分子内的电子和电荷离域 这种改进使得形成的SAM更加致密、有序,不仅有效地调节了ITO的功函数,还增强了SAM抵抗紫外线辐射对OPV器件产生的不利影响

JJ37(含苯基连接基的SAM)相对于JJ36(含烷基连接基的SAM展现出显著改善的电洞提取能力和本征的光/电化学稳定性

基于JJ37OPV器件实现了令人印象深刻的19.70%PCE,并展现出优异的长期运行稳定性,在>1100小时后仍能保持其初始性能的80%,同时相较于基于JJ36的器件,具有更强的抗紫外线能力



文献参考自Advanced Functional Materials_DOI: 10.1002/adfm.202423178

本文章为Enlitech光焱科技改写 用于科研学术分享 如有任何侵权  请来信告知




版权所有©2025 光焱科技股份有限公司 All Rights Reserved    备案号:沪ICP备2021022654号-3    sitemap.xml    管理登陆    技术支持:化工仪器网