• 光焱科技REPS+與G2 Voc损耗分析仪是一个完整的系统,可以帮助科学家测量、计算和分析工作中的太阳能电池中的 Voc-loss,并为下一步的工艺改进提供思路。

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    更新日期:2024-06-06
  • LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe测试系统适用测试PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致发光量子产率)。 PLQY 是评价发光材料的重要指标,除了可以用来对材料进行初级分类的基本参数,且对于发光系统与其载子动力学的重要分析方法。

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    更新日期:2024-04-03
  • 在半导体器件中,不完好的结晶度往往会导致禁带隙中的缺陷或陷阱态,这极大地影响了器件的整体光学和电学性能。由于带隙中的吸收系数极低,产生的光电流信号也极弱。因此,需要高度灵敏的检测系统。 Enlitech 的 FTPS 是一种高灵敏度的光电流和外量子效率 (HS-EQE) 光谱系统。它利用傅里叶变换信号处理技术来增强和突破光电流信号检测极限。 EQE 水平可以低至10-5%(7 个量级)*。

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    更新日期:2024-06-06
  • 光焱科技QE-R量子效率测试系统采用了高效的椭圆反射器,比传统的球形透镜和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主体内集成了所有光学和机械部件,节省了大量实验室空间,但仍保持了各种类型的太阳能电池测试夹具的灵活性。并且也提供简单而完整的手套箱集成方案。

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    更新日期:2024-03-18
  • 激光扫描缺陷成像仪是激光束感应电流(LBIC)测试的升级版本。它利用波长能量大于半导体带隙的激光束照射半导体,产生电子空穴对。通过快速扫描样品表面,获得揭示内部电流变化的图像分布,从而分析各种缺陷分布。这有助于分析样品制备的质量并有助于工艺改进。

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    更新日期:2024-04-02
  • 光焱科技 QE-RX光伏电池效率损失分析仪 可用于高效太阳能电池研发。QE-RX 不仅可以测量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 数据,还可以通过结合分析软件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 损失。光焱在 QE-RX 内整合了三种不同的测试功能,并开发了 SQ-JVFLA 软件,帮助用户通过使用 Shockley-Queisser 热极限理论分析三种不同的损失。QE-RX 是您

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    更新日期:2024-03-25
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