产品分类
Product Category详细介绍
品牌 | Enlitech | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 电子/电池,汽车及零部件 | 暗計數(Dark?Count?Rate) | DCR |
产地类别 | 进口 | 测量模式 | 咨询光焱科技专家 |
SPD2200具備全光譜性能測試包含:
*全光譜光譜回應(SR, Spectral Responsivity)
*全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)
*全光譜光子探測率(PDP, Photon Detection Probability)
*暗計數DCR (Dark Count Rate)
*崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)
SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析,包含:
*Jitter
*Afterpulsing probability
*Diffusion tail
*SNR
SPD2200整合了所有*進光學與電學系統,搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經驗,提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節省系統搭設的時間成本,並降低測試結果的不確定性。 加快產品的開發週期,提升產品的競爭力。
*SPAD的暗計數與偏壓關係圖
*SPAD暗計數與崩潰電壓
*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜
*SPAD的Jitter測量
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