光焱科技 电致发光效率测试系统

简要描述:LQ-50X-EL 光焱科技电致发光效率测试系统 拥有以下几点特色:采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件、简便的设计可与手套箱直接整合,能解决目前LED发展所面临的挑战。

  • 产品型号:LQ-50X-EL
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-06-28
  • 访  问  量: 2317

详细介绍

品牌Enlitech价格区间面议
测量模式交流产地类别进口
应用领域能源,电子全向式收光系统50mm积分球

光焱科技 电致发光效率测试系统 LQ-50X-EL介紹

目前 LED 发展所面临的挑战包含:

(1) 新型态的 LED 具备低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰减快的特性

(2) 发光半宽(FWHM)较传统 LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)

(3) 非朗伯体 (Non-Lambertian) 分布,使得辉度 (cd/m2) 换算 EQE 时误差很大

(4) 发光波长超过视函数波段 (可见光范围),无法以光通量与辉度评价


其中「衰减快」与「红外发光的准确评价」,是与转换效率高低最息息相关,因此光焱科技推出 LQ-50X-EL,采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件并拥有简便的设计可与手套箱直接整合。


特色

光焱科技 电致发光效率测试系统 LQ-50X-EL 的特色如下:


*采用单光子侦测技术,克服传统光谱仪在低亮度需要长曝光时间 (1~3秒) 的特征,加快测试速度,以确保测试的准确性与高效率。

*采用 NIR 增强光学设计与组件,使其涵盖波长可达到 1100 nm,更可扩展到 1700 nm。

*设计简便,并且可与手套箱直接整合,同时对于各种样品形式都可以做很好的适配。


LQ-50X-EL 可快速测试每个电压下的发光光谱,并可取得辐照度、辉度、CIE坐标等多项参数值,实测无机 LED 测试量测不重复性小于 0.2 %。

光焱科技 电致发光效率测试系统

LQ-50X-EL 为 NIST 溯源,与国外校正的白光与绿光 LED 比对,差异值小于 0.5 %。

光焱科技 电致发光效率测试系统


规格

标准配置:

*全向式收光系统 (50 mm 积分球)

*增强型多信道光谱仪测试系统

*探针系统

*量测软件

*工控机与屏幕


选配规格:

*红外光谱扩充模块 (900 – 1700 nm)

*手套箱整合套件


应用范围

光焱科技 电致发光效率测试系统 LQ-50X-EL 可用于:

*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode

*Organic IR LED

*QD LED / QD Laser Diode

*VESEL Laser Diode

实证

光焱科技 电致发光效率测试系统

量测结果总览


光焱科技 电致发光效率测试系统


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