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APD-QE 采用了光束空间强度技术，利用 ASTM 标准制定的「Irradiance Mode」测试方式，与各种优良探尖台形成完整的微米级光感测器全光谱效率测试解决方案。APD-QE 已被应用于多种优良光感测器的测试中，例如在iPhone 曝光及其多种光感测器、Apple Watch 血氧光感测器、TFT 影像感测器、源动态图元感测器（APS）、高灵敏度间切换 X 射线感测器等。
传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 提供了完整解决方案~命名为 PD-QE光谱响应测试与光电传感器特性分析。
