PD-QE光谱响应测试与光电传感器特性分析

简要描述:传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 提供了完整解决方案~命名为 PD-QE光谱响应测试与光电传感器特性分析。

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-04-01
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详细介绍

品牌自营品牌产地类别进口
应用领域能源,电子偏置电压由 20 V ~ 1000 V

光谱响应產品介紹

 

传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。如:


1.偏置电压无法超过 12V:传统量子效率系统使用锁相放大器,其承受直流电压无法过大,因此在一般的量子效率测试仪,电偏压无法施加超过 12V。

2.无法做噪声频率分析。

3.无法直接测得 NEP 与 D*。


光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 提供了完整解决方案~命名为 PD-QE。

 

特色

 

PD-QE 系统是光焱科技在过去十年的小光斑 (power mode) 基础上,进化开发完成。

PD-QE光谱响应测试与光电传感器特性分析 拥有以下几点特色:


*可应用在 PV 的 EQE 量子效率测试、新型光传感器的研究。

*在全新的软件平台 SW-XQE 上,具有便捷的扩展性:可测试标准 EQE 外,更可整合多种 SMU 的控制,并量测IV曲线。同时具备各种分析功能,如 D*、NEP、频率噪声图。

 

规格

 

 

 

 

*PD-QE 有不同的模块,偏置电压也可由 20 V 1000 V。同时,可测量高分辨率的光电流,分辨率最高可达 10-16 A

*波长扩充可达 1800 nm

*可选配软件升级控制 Kiethley 4200 SMU

 


应用

 

PD-QE光谱响应测试与光电传感器特性分析可用于:

 

*有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)

*钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)

*量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)

*新型材料光传感器

 

实证

# NEP/D*


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PD-QE可直接针对器进进行频率噪声的测量与作图。

 

# EQE 光谱


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PD-QE 可以进行 EQE 光谱测试。除了标准的 300nm ~ 1100nm 波段,PD-QE 可扩展到 1800nm。图中显示不同波长响应器件,在 PD-QE 系统下,测的 EQE 量子效率光谱。


# 整合多种SMU控制进行IV曲线测试


 

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PD-QE 已整合 Keithley 与 Keysight 出产的多种 SMU,进行多种的 IV 曲线扫描。用户无需另外寻找或是自行整合 IV 曲线测试。图中显示 PD-QE 测试不同样品的 IV 曲线,并进行多图显示。

 

#噪声电流频谱图


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PD-QE 凭借先进数字讯号采集与处理技术,直接可测试各种探测器在不同频率下的噪声电流图。用户无需在额外购买、整合频谱分析仪进行测种测试!并且软件可以进行多种频段的特性分析,如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是针对新世代 PD 测试的完整解决方案。

 

 


 

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