光焱科技REPS+與G2 Voc损耗分析仪是一个完整的系统，可以帮助科学家测量、计算和分析工作中的太阳能电池中的 Voc-loss，并为下一步的工艺改进提供思路。

在半导体器件中，不完好的结晶度往往会导致禁带隙中的缺陷或陷阱态，这极大地影响了器件的整体光学和电学性能。由于带隙中的吸收系数极低，产生的光电流信号也极弱。因此，需要高度灵敏的检测系统。 Enlitech 的 FTPS 是一种高灵敏度的光电流和外量子效率 (HS-EQE) 光谱系统。它利用傅里叶变换信号处理技术来增强和突破光电流信号检测极限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 个量级）*。

Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 损耗分析-准费米能级检测仪，可视觉化呈现QFLS image，一眼即可掌握样品QFLS、Pseudo J-V、PLQY、EL-EQE等全貌；最快2分钟可透过Pseudo J-V评估材料效率的极限；极限3秒，就可以了解QFLS费米能级分布情况，1眼掌握材料整理全貌、2分钟评估材料潜力、3秒钟分析QFLS态样。

激光扫描缺陷成像仪是激光束感应电流（LBIC）测试的升级版本。它利用波长能量大于半导体带隙的激光束照射半导体，产生电子空穴对。通过快速扫描样品表面，获得揭示内部电流变化的图像分布，从而分析各种缺陷分布。这有助于分析样品制备的质量并有助于工艺改进。

PD-RS光电器件响应测量与光侦测器可针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。

光电流、开路电压的瞬态特性、载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程等是新型太阳电池器件的重要参数。由于新型太阳电池器件面积小、光电流小，非常难以准确测量出光电流随时间的变化，钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪可对有机太阳能电池OPV、钙钛矿太阳能电池PSC、量子点太阳能电池、染料敏化太阳能电池DSSC、无机太阳能电池等光电器件进行微观机理测试，进而全面分析光电器件中的载流子特性