损耗分析-准费米能级检测仪

简要描述:Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 损耗分析-准费米能级检测仪,可视觉化呈现QFLS image,一眼即可掌握样品QFLS、Pseudo J-V、PLQY、EL-EQE等全貌;最快2分钟可透过Pseudo J-V评估材料效率的极限;极限3秒,就可以了解QFLS费米能级分布情况,1眼掌握材料整理全貌、2分钟评估材料潜力、3秒钟分析QFLS态样。

  • 产品型号:QFLS-Maper
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-03-20
  • 访  问  量: 508

详细介绍

品牌Enlitech价格区间面议
测量模式交流产地类别进口
应用领域能源

产品介绍

什么是QFLS?

QFLS准费米能级分裂(Quasi-Fermi Level Splitting),用于描述光照下光生载流子(电子和空穴)之间的非平衡态能级分布。

  • 用于量化材料的Voc潜力,帮助研究者理解非辐射复合损失的来源。

  • 通过逐层测试,评估不同制备工艺对材料性能的影响,为界面工程和材料优化提供依据

准费米能级分裂(Quasi-Fermi Level Splitting,QFLS)是太阳能研究中一个重要的物理参数,广泛应用于半导体材料与光电器件的性能评估。QFLS描述了在非平衡态下,电子与空穴的准费米能级之间的能量差,并与光伏器件的开路电压(Open-Circuit Voltage,VOC)以及光电转换效率(Power Conversion Efficiency,PCE)密切相关。本文旨在全面探讨QFLS的基本概念和定义、背景与重要性、测量方法、计算公式及其在光伏器件中的应用,并分析其未来发展方向。


  在实验中,QFLS可以通过光致发光(PL)测量技术来量化。例如,利用光子量子产率(PLQY)和光致发光光谱数据,可以计算出QFLS值,进一步得到iVOC,来评估材料的光电转换潜力 QFLS和Pseudo J-V的关联 Pseudo J-V曲线(拟态J-V)是一种基于量测数据理论推导重建的电流密度-电压(J-V)曲线,通常用于评估太阳能材料或组件的效率潜力。 与实际测量的J-V曲线不同,Pseudo J-V曲线不受元件结构(如电极或传输层)的影响。

  • 帮助分析材料的理论效率上限,为器件设计提供参考。

  • 在器件制备前,快速筛选出具有高效率潜力的材料,降低实验成本和时间


损耗分析-准费米能级检测仪


特点

QFLS-Maper 损耗分析-准费米能级检测仪

 ● 分析材料极限:

损耗分析-准费米能级检测仪 


3秒内获得QFLS视觉图
2分钟内测得Pseudo jv
让你迅速得知光伏材料的iVoc以及最佳IV曲线图


 ● 视觉化呈现:


损耗分析-准费米能级检测仪

QFLS Image视觉化材料整体准费米能级分布情况,材料优劣一览无遗


 多模态功能


损耗分析-准费米能级检测仪


可量测QFLS、iVoc、Pseudo jv、PL image、PLQY、ELimage、EL-EQE…等太阳能电池的关键参数


规格

QFLS-Maper 损耗分析-准费米能级检测仪


项目规格
光谱检测范围
  • 450nm~1050nm(405nm雷射波长)

光学强度动态范围
  • 1/100000(10^-5)~10倍太阳光强度

测量速度
  • QFLS影像:< 3秒

  • Pseudo JV曲线:最快<2分钟

扫描类型
  • 全场影像扫描

多模态功能模组
  • QFLS

  • QFLS image

  • iVOC

  • Pseudo J-V

  • PLQY

  • PLQY image

  • In Situ PL

  • EL-EQE

  • EL image








应用

 ● 单结钙钛矿太阳能电池

 ● 钙钛矿薄膜材料










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