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品牌 | Enlitech | 应用领域 | 电子 |
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全光谱的波长范围 | 300-1100nm或350-1000nm(PTC) | 动态范围 | 80dB、100dB或140dB |
产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
测量模式 | 咨询光焱科技专家 |
*无损光学检测。
*高度准直梁角 /高准直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,<3度 (不同型号)
*高均匀光束点:≥ 99%。
*光的不稳定性≤1%。
*高动态范围测试能力:80dB~140dB(不同型号)。
*可以测试CMOS图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、信噪比、饱和容量、线性误差(LE)、DCNU(暗电流不均匀性)、PRNU(光响应不均匀性)、CRA。
*全光谱波长范围:300nm-1100nm或350nm~1000nm(PTC)。
*波长可扩展至1700纳米以上。
*DUT 封装:CIS 模块,PCB 板级,CIS 摄像头,有/无微透镜。
*SG-A和DUT之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。
*定制的测试夹具和平台(手动或自动,最多6轴)。
*功能完整的分析软件ARGUS®。
*应用:指纹识别(CIS+镜头,CIS+准直器,TFT阵列传感器)CIS的微透镜设计,晶圆级光学检测,CIS DSP芯片算法开发,Si TFT传感器面板,飞行时间相机传感器,接近传感器(量子效率,灵敏度,线性度,SNR等),d-ToF传感器,i-ToF传感器,多光谱传感器,环境光传感器(ALS),指纹显示(FoD)传感器。
光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪的功能很好,因此相关的规格和配件也很齐全。更多细节可再了解。
以下是主要的能力规格:
– 全光谱的波长范围:300-1100nm或350-1000nm(PTC)
– 波长范围可以扩展到1700 nm或更高
– 单一波长源:470nm、530nm、630nm、940nm(±5nm),或自定义
– 动态范围:80dB、100dB或140dB
– 测试夹具:DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制
– 平台:非、手动3轴,或6轴(手动+自动)平台(可定制)
光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于:
*指纹识别(CIS+镜头、CIS+准直器、TFT-阵列传感器)
*CIS的微透镜设计,晶圆级光学检查
*CIS DSP 芯片的算法开发
*Si TFT 传感器面板
*飞行时间相机传感器
*近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR等。)
*d-ToF传感器、i-ToF传感器
*多光谱传感器
*环境光传感器 (ALS)
*指纹显示(FoD)传感器
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