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产品分类
Product Category详细介绍
品牌 | Enlitech | 应用领域 | 电子/电池 |
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全光谱的波长范围 | 300-1100nm或350-1000nm(PTC) | 动态范围 | 80dB、100dB或140dB |
产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
测量模式 | 咨询光焱科技专家 |
SG-A 可提供最完整的CMOS图像传感器参数量测分析,例如全光谱量子效率(QE)、整体系统增益(K)、时间暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、暗讯号非均匀性 (DSNU)、光响应非均匀性 (PRNU)、线性误差和主光线角度 (CRA)。
待测元件可以是多种类型的 CMOS 影像感测器模块。 检测程序符合EMVA 1288标准。
因此,SG-A CMOS影像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检查、工艺参数控制、微透镜设计、微透镜验证。 SG-A CMOS 影像传感器测试仪的高准直光束 (< 1°) 可以克服传统光学系统(如积分球系统)无法解决的新制造工艺的检测难题。
这些制成包括小像素(< 1微米)、BSI和3D堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等。
● 无损光学检测
● 高准直光束角度;<0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°(不同型号)。
● 高均匀光斑:≥ 99%。
● 光源不稳定度≤1%。
● 高动态范围测试能力:80dB~140dB(不同型号)。
● 可测试 CMOS 图像传感器参数:量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、讯噪比、饱和容量、线性误差 (LE)、暗电流非均匀性 (DCNU)、光响应非均匀性 (PRNU)、主光线角度 (CRA)。
● 全光谱波长范围:300nm-1100nm 或 350nm~1000nm(依型号而定)。
● 波长可扩展至1700nm或更长。
● 待测元件封装:CIS 模组、PCB 板级、CIS 相机,含/不含微透镜。
● SG-A 与待测元件之间可透过「直接通讯」或「握手通讯」进行数据交换。
● 客制化测试夹具和平台(手动或自动,最多 6 轴)。
● 功能强大的分析软件ARGUS®。
● 应用:指纹辨识(CIS+镜头、CIS+准直器、TFT阵列感测器)、CIS微透镜设计、晶圆级光学检测、CIS DSP芯片算法开发、硅基TFT感测器面板、飞行时间相机感测器、近接感测器(量子效率、灵敏度、线性度、讯噪比等)、d-ToF 感测器、i-ToF 感测器、多光谱感测器、环境光感测器(ALS)、屏幕下指纹识别 (FoD) 感测器。
SG-A CMOS 图像传感器测试仪功能强大,因此相关规格和配件非常齐全
以下为主要功能规格:
● 全光谱波长范围:300-1100nm 或 350-1000nm (PTC)
● 波长范围可扩展至 1700nm 或更高。
● 单一波长光源:470nm、530nm、630nm、940nm (±5nm) 或定制
● 动态范围:80dB、100dB 或 140dB
● 测试夹具:DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm(高)[Basic type] 或定制
● 平台:非、手动 3 轴或 6 轴(手动 + 自动)平台(可定制)
光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于:
● 指纹识别:(CIS+镜头、CIS+准直器、TFT-阵列传感器)
● CIS的微透镜设计,晶圆级光学检查
● CIS DSP芯片的算法开发
● Si TFT传感器面板
● 飞行时间相机传感器
● 近距离传感器:(量子效率、灵敏度、线性度、SNR等)
● d-ToF传感器、i-ToF传感器
● 多光谱传感器
● 环境光传感器:(ALS)
● 指纹显示(FoD)传感器
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