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产品分类
Product Category详细介绍
| 品牌 | Enlitech | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 测量模式 | 交流 | 产地类别 | 进口 |
| 应用领域 | 能源,电子 | Lamp?Wavelength?Range | 300nm~2000nm |
| Measuring?Wavelength?Range | 300nm~1200nm | Jsc?Un-Repeatability | <0.1% |
| Jsc?Uncertainty | <0.15% | Dark?box | 800mmx800mmx920mm |
QE-RX光伏电池效率损失分析仪 的特色如下：
*高度准确且低不确定性
QE-RX 的校准是NIST 可追溯的，这使得 QE-RX 的测试数据的不确定性低于任何其他 EQE 测试系统。同时，QE-RX 是由Enlitech 开发的，Enlitech 拥有 10 年的ISO / IEC 17025 认证的校准实验室。这使得 QE-RX 对 Si 太阳能电池的测试结果高度准确。依靠 QE-RX，它将为您提供可靠的结果。
*结构紧凑但功能多样
QE-RX 将所有光学和机械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主体内，其中包括电信号采集锁相放大器。不限于其紧凑的尺寸，QE-RX 仍然提供各种测试数据，包括太阳能电池的 EQE、光谱响应、反射率和 IQE。紧凑而多功能是 QE-RX 的优势。
*功率损耗分析
QE-RX 结合 SQ-JVFL 软件，可以提供最完整的分析功能，包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和带隙计算。这些参数是生产产量控制和效率建议的关键因素，这使得 QE-RX 成为光伏行业的最佳合作伙伴。
．用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接触、双面和 TOP-Con 硅太阳能电池
．提供 QE（量子效率）、PV-EQE（外部量子效率）、IPCE（入射光子-电子转换效率）、SR（光谱响应）、IQE（内部量子效率）和反射率方面的数据。
．结构紧凑且重复性高超过 99.5%。
．波长范围：300~1200 nm
．Jsc损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。
．职业损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。
．FF损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。
．提供的EQE不确定度评估报告和经ISO/IEC 17025认证的质量控制，可用于期刊论文投稿。
．多样化和定制化的样品测试装置。
QE-RX主机功能 | Ø 测量波长范围：300-1200nm （可扩展） Ø 各波长测量重复性：300-390nm 平均不重复性≦ 0.3%，400-1000 nm 平均不重复性 ≦ 0.15%。1000-1200nm波长平均不重复性 ≦ 0.25% Ø 短路电流密度不重复性 ≦ 0.1% Ø 准确性<0.1% Ø 量测10次计算平均不重复性 = 相对标准差/平均值* 100% Ø 测量时间:300-1200nm，扫描间隔10nm，测量不超过3分钟 Ø 测量暗箱：80cm测量遮罩暗室 Ø 适用环境: 温度15~35度，湿度20%~65% Ø 具备短路电流、开路电压、填充因素三大损耗分析 |
软件功能 | Ø 绝对光强校正 Ø 光谱响应测量 Ø 外部量子效率测量（EQE） Ø 带宽能隙分析（Bandgap） Ø 自动、即时短路电流密度Jsc计算 Ø 单波长短路电流自动计算 Ø 独立控制操作整体硬件系统及资料读取 Ø 光谱失配因素计算（MMF） Ø 信号监控功能 Ø 任意AM光谱短路电流密度计算功能 Ø 资料保存格式txt | |
QE-RX光伏电池效率损失分析仪 可用于：
*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太阳能电池效率-损失分析
*IEC-60904-8 光谱响应测量
*IEC-60904-7 失配系数计算
*IEC-60904-1 MMF 校正
*矽太阳能电池加工质量控制
*矽太阳能电池带隙测定
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